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• DFT加班多不多？揭秘芯片设计中的加班现状
  DFT（Design-for-Test）即设计可测试性，是芯片设计中的一个重要环节。它通过在芯片设计中嵌入测试结构，使得芯片在制造和测试过程中能够被有效地检测和诊断，从而提高芯片的良率和可靠性。
  2026-07-19