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• 闩锁效应能不能提前预防
  闩锁效应（Latch-up）是指在半导体器件中，由于电路设计或制造缺陷，导致PN结反向偏置时，电流在硅衬底中形成回路，从而产生高电流的现象。这种现象会导致器件损坏，严重时甚至可能引发设备故障。
  2026-07-15