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• 热载流子退化：揭秘半导体器件性能下降的元凶
  热载流子退化，是指半导体器件在高温工作环境下，由于载流子与晶格相互作用导致的器件性能下降现象。这一现象在集成电路、功率器件等领域尤为常见，对器件的可靠性和稳定性构成严重威胁。
  2026-07-20