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半导体集成电路 ·
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标签:ESD静电击穿是什么原因造成的

  • ESD静电击穿:揭秘其背后的原因与防护策略
    ESD静电击穿,即静电放电导致的击穿现象,是半导体集成电路在制造、测试、运输和使用的各个环节中常见的故障之一。当静电电压超过器件的耐受阈值时,会在器件内部形成电弧,导致器件性能下降甚至永久损坏。
    2026-07-15
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