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标签:EOS过电应力是什么原因造成的
EOS过电应力:揭秘其成因与应对策略
EOS(Electrostatic Overstress)过电应力,即静电过应力,是指半导体器件在制造、存储或使用过程中,由于静电放电(ESD)而导致的器件性能下降或损坏的现象。这种现象在芯片设计中尤...
2026-07-19
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